課程大綱

課程資訊

課程名稱

積體電路系統測試
Vlsi System Testing

開課學期

103-2

授課對象

電機資訊學院電子工程學研究所

授課教師

課號

EEE5011

課程識別碼

943 U0110

班次

學分

全/半年

半年

必/選修

選修

上課時間

星期四6,7,8(13:20~16:20)

上課地點

博理214

備註

總人數上限：30人

Ceiba 課程網頁

課程簡介影片

核心能力關聯

課程大綱

為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印

課程概述

1. Introduction
2. Fault models
3. Design-for-test
4. Test data management
5. Test power management
6. Memory testing
7. AMS testing

課程目標

本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術，內容包含可測試性設計（Design-for-Test）、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。

課程要求

預期每週課後學習時數

Office Hours

指定閱讀

"System on Chip Test Architectures," edited by L.-T. Wang, C. E. Stroud, and N. A. Touba, Morgan Kaufmann.

參考書目

"VLSI Test Principles and Architectures," edited by L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, Morgan
Kaufmann.

評量方式
(僅供參考)

No.	項目	百分比	說明
1.	presentation	10%	in-class presentation of selected papers
2.	assignment	30%
3.	exam	30%	between midterm and final
4.	term project	30%

課程進度

週次	日期	單元主題
第1週	2015/2/26	Lecture: Introduction
第2週	2015/3/5	Lecture: Fault Modeling
第3週	2015/3/12	Discussion: Power Issues During Test<br> Design-for-Test
第4週	2015/3/19	Design-for-Test (cont'd)
第5週	2015/3/26	04 Test Compression
第6週	2015/4/2	溫書假（停課）
第7週	2015/4/9	Presentation: A1, D1, T1
第8週	2015/4/16	Memory Testing
第9週	2015/4/23	Memory Testing (cont'd) (midterm exam week)
第10週	2015/4/30	Presentation: A2, D2, T2
第11週	2015/5/7	Memory Testing (cont'd) Adaptive Test
第12週	2015/5/14	Adaptive Test
第13週	2015/5/21	Presentation: T3, T4, P2 Adaptive Test (cont'd)
第14週	2015/5/28	AMS Testing
第15週	2015/6/4	final exam
第16週	2015/6/11	Presentation: D3, P1, P3
第17週	2015/6/18	AMS Testing Coherent Sampling
第18週	2015/6/25	Term Project Presentation